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- 日本拓普康topcon２維分光輻射計 SR-5100
日本拓普康topcon２維分光輻射計 SR-5100以非破壞?非接觸的方式，測量光源的光譜特性，材料分光穿透率及物體的分光反射率特性，擁有高分辨率（500萬像素）高量程（170億cd/m2） 透過每1nm的分光特性測量，在客戶產品質量維持上做出貢獻。廣泛應用LCD、OLED、QD、激光、Micro LED及關聯材料等的亮度?色度、分光光譜的評價，汽車儀表盤及內外裝照明的發光分布特性、分光光譜等等
- 更新日期：2025-01-01
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